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Resistencia a
las vibraciones: estos portafusibles semiconductores de férula AC/DC se prueban con vibraciones sinusoidales realizadas a temperatura ambiente, escaneando cada uno de los 3 ejes principales. Espectro: primer segmento (2 a 16 Hz), desplazamiento constante x = 5 mm de pico. Aceleración constante del segundo segmento (16 a 250 Hz) gamma = 5 g de pico. Velocidad de escaneo exponencial: 1 octava por minuto. Duración: 2 horas
